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[主观题]

已知某种电子元件的使用寿命服从指数分布e(λ),抽查100个样本,测得样本均值=1950(h),能否认为参

已知某种电子元件的使用寿命服从指数分布e(λ),抽查100个样本,测得样本均值=1950(h),能否认为参

已知某种电子元件的使用寿命服从指数分布e(λ),抽查100个样本,测得样本均值已知某种电子元件的使用寿命服从指数分布e(λ),抽查100个样本,测得样本均值=1950(h),能否=1950(h),能否认为参数λ=1/2000?(α=0.05)

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第1题
随机变量X表示某种电子元件的使用寿命,则一般认为X服从()

A.正态分布

B.二项分布

C.指数分布

D.泊松分布

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第2题
某种电子元件的使用寿命服从正态分布,总体均值不应低于2000(h),从一批这种元件中抽取25个,测得
某种电子元件的使用寿命服从正态分布,总体均值不应低于2000(h),从一批这种元件中抽取25个,测得

元件寿命的样本均值=1920(h),样本标准差s=150(h),检验这批元件是否合格(取α=0.01)。

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第3题
100件产品中,90个一等品,10个二等品,随机取2个安装在一台设备上,若一台设备中有i个(i=0,1,2)二等品,则此设备的使用寿命服从参数为λ=i+1的指数分布。(1)试求设备寿命超过1的概率;(2)已知设备寿命超过1,求安装在设备上的两个零件都是一等品的概率。
100件产品中,90个一等品,10个二等品,随机取2个安装在一台设备上,若一台设备中有i个(i=0,1,2)二等品,则此设备的使用寿命服从参数为λ=i+1的指数分布。(1)试求设备寿命超过1的概率;(2)已知设备寿命超过1,求安装在设备上的两个零件都是一等品的概率。

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第4题
某种电子元件的使用寿命X(单位:h)的概率密度为求在150h内:(1)3个电子元件中没有一个损坏的概率
某种电子元件的使用寿命X(单位:h)的概率密度为求在150h内:(1)3个电子元件中没有一个损坏的概率

某种电子元件的使用寿命X(单位:h)的概率密度为求在150h内:

(1)3个电子元件中没有一个损坏的概率;

(2)3个电子元件中只有一个损坏的概率;

(3)3个电子元件中全损坏的概率。

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第5题
据以往经验某种电器元件的寿命服从均值为100小时的指数分布,现在随机的抽取16只,设它们的寿命是相互独立的,求这16只元件寿命总和大于1920小时的概率。

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第6题
设X服从参数为2的指数分布,则E(2X+1)=1。()
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第7题
设随机变量X服从参数λ=1的指数分布,求E(3X-2)和D(3X-2).
设随机变量X服从参数λ=1的指数分布,求E(3X-2)和D(3X-2).

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第8题
设随机变量X服从指数分布,其概率密度为,其中θ>0是常数,求E(X),D(X)。
设随机变量X服从指数分布,其概率密度为,其中θ>0是常数,求E(X),D(X)。

设随机变量X服从指数分布,其概率密度为,其中θ>0是常数,求E(X),D(X)。

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第9题
设总体X服从指数分布e(λ),抽取样本X1,...,Xn,求:(1)样本均值的期望与方差;(2)样本方差
设总体X服从指数分布e(λ),抽取样本X1,...,Xn,求:(1)样本均值的期望与方差;(2)样本方差

设总体X服从指数分布e(λ),抽取样本X1,...,Xn,求:

(1)样本均值的期望与方差;

(2)样本方差S2的数学期望。

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第10题
已知某产品使用寿命X服从正态分布,要求平均使用寿命不低于1000小时,现从一批这种产品中随机抽出25只,测得平均使用寿命为950小时,样本方差为100小时。则可用()。

A.t--检验法

B.X2--检验法

C.U--检验法

D.F--检验法

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